Zobrazit jako PDF kompletní report Zobrazit jako PDF zkrácený report Interaktivní mapa

Zpráva o inspekci fotovoltaické elektrárny

FVE na průmyslových halách

Evidenční číslo zprávy: 39844 Podle: IEC TS 62446-3
Datum a čas kontroly: neděle 18. 2. 2024 11.45 Vytvoření reportu: neděle 25. 2. 2024 0.00
Objekt inspekce: FVE na průmyslových halách
Adresa: Brno GPS souřadnice: 49.1950602, 16.6068371

Správnost postupu vyhodnocení dat byla ověřena revizním technikem: Petr Herold, ev. č. osvědčení: 15175/5/21/R-EZ-E2A, ev. č. oprávnění: 17561/5/22/R-EZ-E2A

Majitel objektu
Název firmy/Jméno
N/A 		IČO/Datum narození
N/A
Objednatel
Název
DroneTech s.r.o. 		Telefon
+420 724 302 040
Kontaktní osoba
Ing. Ondřej Staněk 		E-mail
stanek@dronetech.cz
Zpracovatel inspekce
Název
DroneTech s.r.o. 		Telefon
+420 724 302 040
Technik
Ing. Ondřej Staněk 		E-mail
stanek@dronetech.cz
Elektrárna
Výkon
0.95 MWdc 		Střídače
nedodáno klientem
Moduly (Počet: 3 520)
Neznámé - použit vzorový panel 315 W 		Konstrukce
Střešní konstrukce
Technologie modulů
nedodáno klientem 		Rozložení modulů
String 16
Sběr dat
Název
DroneTech s.r.o. 		Pilot
Ing. Ondřej Staněk
UAS
Matrice 30T 		Kamera
M30T
Počasí
Vlhkost
60 % 		Teplota
13° C
Rychlost větru
0 m/s 		Intenzita slunečního záření
1050 W/m2
Oblačnost
jasno
Inspekce
Typ inspekce
VÝCHOZÍ PRAVIDELNÁ MIMOŘÁDNÁ

Celkový posudek
h
Kč/kWh

Na panelech kontrolované fotovoltaické elektrárny byly nalezeny následující anomálie v celkovém počtu 140 na 140 modulech.
Celková odhadovaná roční ztráta výkonu je 21 784 000 000,00 kWh.

Název anomálie Anomálie *(1) Moduly *(2) Odhad ztráty výkonu (kW) *(3) Odhad ztráty výkonu (%) *(4) Odhad roční ztráty výkonu (kWh) *(5) Odhad roční finanční ztráty (Kč) *(6)
Přehřátí buňky - nízké
(Cell Low) 		5 5 0,52 kW 0,06 % 416 000 000,00 kWh 1 664 000 000,00 Kč
Přehřátí buňky - střední
(Cell Medium) 		1 1 0,10 kW 0,01 % 80 000 000,00 kWh 320 000 000,00 Kč
Přehřátí skupiny buněk – vysoké
(Cell Multi High) 		1 1 0,16 kW 0,02 % 128 000 000,00 kWh 512 000 000,00 Kč
Přehřátí skupiny buněk – nízké
(Cell Multi Low) 		9 9 1,42 kW 0,15 % 1 136 000 000,00 kWh 4 544 000 000,00 Kč
Přehřátí skupiny buněk – střední
(Cell Multi Medium) 		3 3 0,47 kW 0,05 % 376 000 000,00 kWh 1 504 000 000,00 Kč
Praskání
(Cracking) 		3 3 0,95 kW 0,10 % 760 000 000,00 kWh 3 040 000 000,00 Kč
Dioda
(Diode) 		57 57 5,98 kW 0,63 % 4 784 000 000,00 kWh 19 136 000 000,00 Kč
Dioda - vícenásobná
(Diode Multi) 		1 1 0,21 kW 0,02 % 168 000 000,00 kWh 672 000 000,00 Kč
Vnitřní zkrat – vysoká teplota
(Internal Short Circuit High) 		3 3 0,31 kW 0,03 % 248 000 000,00 kWh 992 000 000,00 Kč
Vnitřní zkrat – nízká teplota
(Internal Short Circuit Low) 		1 1 0,10 kW 0,01 % 80 000 000,00 kWh 320 000 000,00 Kč
Modul
(Module) 		52 52 16,38 kW 1,73 % 13 104 000 000,00 kWh 52 416 000 000,00 Kč
Znečištění
(Soiling) 		4 4 0,63 kW 0,07 % 504 000 000,00 kWh 2 016 000 000,00 Kč
Celkem 140 140 27,23 kW 2,88 % 21 784 000 000,00 kWh 87 136 000 000,00 Kč

*(1) Anomálie: Počet výskytů daného typu anomálie.
*(2) Moduly: Počet modulů dotčených daným typem anomálie.
*(3) Odhad ztráty výkonu (kW): Odhad ztráty výkonu je definován násobkem počtu zasažených modulů, špičkového výkonu elektrárny (STC) a faktoru ovlivnění výkonu danou anomálií (na škále 0 – 1).
*(4) Odhad ztráty výkonu (%): Odhad ztráty výkonu je definován jako podíl ztráty vůči celkového výkonu elektrárny a je vyjádřen v procentech.
*(5) Odhad roční ztráty výkonu (kWh): Odhadovaná roční ztráta výkonu v kilowatthodinách je vypočten jako ztráta výkonu násobená počtem slunečních hodin za rok.
*(6) Odhad roční finanční ztráty (Kč): Odhadovaná roční finanční ztráta je vypočtena na základě roční ztráty výkonu v kilowatt hodinách násobených cenou za kilowatt hodinu. Cena za kilowatt hodinu je stanovena na základě výkupní ceny deklarované zákazníkem pro účely tohoto výpočtu.

Pro více informací o jednotlivých typech anomálií prosím pokračujte na konec dokumentu.

Mapa anomálií

Přepnout na interaktivní mapu

Lokalizace anomálií

Otevřít v novém okně
Otevřít v novém okně
Otevřít v novém okně
Otevřít v novém okně
Otevřít v novém okně
Otevřít v novém okně

Rozpis anomálií

CSV XLSX PDF
Primární fotka Sekundární fotka Název anomálie Řada X Řada Y String X String Y Modul X Modul Y Priorita Delta T Návrh dalšího postupu
1 95 Cell Multi Low Přehřátí skupiny buněk – nízké
(Cell Multi Low) 		1 95 1 1 21 1 Nízká 7.1 1
2 93 Cell Medium Přehřátí buňky - střední
(Cell Medium) 		1 93 1 1 14 1 Nízká 18 1
3 94 Diode Dioda
(Diode) 		1 94 1 1 22 1 Střední 3.9 2
4 94 Cell Multi Low Přehřátí skupiny buněk – nízké
(Cell Multi Low) 		1 94 1 1 21 1 Nízká 4.4 1
5 96 Cell Multi Low Přehřátí skupiny buněk – nízké
(Cell Multi Low) 		1 96 1 1 21 1 Nízká 6.5 1
6 90 Cell Multi Low Přehřátí skupiny buněk – nízké
(Cell Multi Low) 		1 90F 1 1 2 1 Nízká 5.6 1
7 89 Cell Multi Medium Přehřátí skupiny buněk – střední
(Cell Multi Medium) 		1 89E 1 1 1 1 Nízká 13.3 1
8 89 Diode Dioda
(Diode) 		1 89B 1 1 2 1 Střední 6.1 2
9 59 Module Modul
(Module) 		1 59B 1 1 5 1 Vysoká 3
10 91 Diode Multi Dioda - vícenásobná
(Diode Multi) 		1 91D 1 1 1 1 Střední 4.3 2
11 58 Module Modul
(Module) 		1 58B 1 1 5 1 Vysoká 3
12 58 Module Modul
(Module) 		1 58B 1 1 4 1 Vysoká 3
13 57 Module Modul
(Module) 		1 57B 1 1 4 1 Vysoká 3
14 57 Diode Dioda
(Diode) 		1 57B 1 1 3 1 Střední 5.5 2
15 56 Module Modul
(Module) 		1 56A 1 1 4 1 Vysoká 3
16 56 Module Modul
(Module) 		1 56A 1 1 3 1 Vysoká 3
17 55 Module Modul
(Module) 		1 55A 1 1 4 1 Vysoká 3
18 51 Diode Dioda
(Diode) 		1 51B 1 1 1 1 Střední 3.3 2
19 51 Module Modul
(Module) 		1 51B 1 1 7 1 Vysoká 3
20 45 Cell Low Přehřátí buňky - nízké
(Cell Low) 		1 45D 1 1 2 1 Nízká 3.6 1
21 83 Cell Multi High Přehřátí skupiny buněk – vysoké
(Cell Multi High) 		1 83A 1 1 6 1 Nízká 23.4 1
22 48 Internal Short Circuit Low Vnitřní zkrat – nízká teplota
(Internal Short Circuit Low) 		1 48B 1 1 3 1 Nízká 9.7 1
23 82 Cell Multi Medium Přehřátí skupiny buněk – střední
(Cell Multi Medium) 		1 82A 1 1 6 1 Nízká 13.7 1
24 83 Diode Dioda
(Diode) 		1 83C 1 1 1 1 Střední 3.6 2
25 52 Module Modul
(Module) 		1 52A 1 1 5 1 Vysoká 3
26 80 Soiling Znečištění
(Soiling) 		1 80C 1 1 1 1 Nízká 1
27 82 Diode Dioda
(Diode) 		1 82B 1 1 2 1 Střední 5.5 2
28 50 Module Modul
(Module) 		1 50B 1 1 7 1 Vysoká 3
29 49 Module Modul
(Module) 		1 49C 1 1 6 1 Vysoká 3
30 42 Cell Low Přehřátí buňky - nízké
(Cell Low) 		1 42A 1 1 4 1 Nízká 6.1 1
31 53 Module Modul
(Module) 		1 53A 1 1 2 1 Vysoká 3
32 81 Diode Dioda
(Diode) 		1 81B 1 1 2 1 Střední 6.1 2
33 64 Module Modul
(Module) 		1 64 1 1 3 1 Vysoká 3
34 81 Soiling Znečištění
(Soiling) 		1 81B 1 1 1 1 Nízká 1
35 51 Module Modul
(Module) 		1 51B 1 1 8 1 Vysoká 3
36 49 Module Modul
(Module) 		1 49B 1 1 8 1 Vysoká 3
37 70 Diode Dioda
(Diode) 		1 70C 1 1 1 1 Střední 4.4 2
38 49 Module Modul
(Module) 		1 49B 1 1 9 1 Vysoká 3
39 49 Module Modul
(Module) 		1 49B 1 1 10 1 Vysoká 3
40 48 Module Modul
(Module) 		1 48C 1 1 2 1 Vysoká 3
41 49 Module Modul
(Module) 		1 49C 1 1 5 1 Vysoká 3
42 50 Module Modul
(Module) 		1 50B 1 1 8 1 Vysoká 3
43 51 Module Modul
(Module) 		1 51B 1 1 9 1 Vysoká 3
44 63 Module Modul
(Module) 		1 63 1 1 3 1 Vysoká 3
45 41 Diode Dioda
(Diode) 		1 41A 1 1 4 1 Střední 4.5 2
46 37 Cell Multi Low Přehřátí skupiny buněk – nízké
(Cell Multi Low) 		1 37B 1 1 2 1 Nízká 6.6 1
47 63 Module Modul
(Module) 		1 63 1 1 22 1 Vysoká 3
48 53 Module Modul
(Module) 		1 53B 1 1 1 1 Vysoká 3
49 54 Module Modul
(Module) 		1 54B 1 1 1 1 Vysoká 3
50 50 Module Modul
(Module) 		1 50C 1 1 6 1 Vysoká 3
51 45 Module Modul
(Module) 		1 45A 1 1 1 1 Vysoká 3
52 63 Module Modul
(Module) 		1 63 1 1 10 1 Vysoká 3
53 53 Module Modul
(Module) 		1 53B 1 1 2 1 Vysoká 3
54 70 Diode Dioda
(Diode) 		1 70D 1 1 1 1 Střední 6.4 2
55 63 Module Modul
(Module) 		1 63 1 1 5 1 Vysoká 3
56 67 Diode Dioda
(Diode) 		1 67C 1 1 11 1 Střední 5.2 2
57 64 Module Modul
(Module) 		1 64 1 1 5 1 Vysoká 3
58 64 Module Modul
(Module) 		1 64 1 1 23 1 Vysoká 3
59 58 Module Modul
(Module) 		1 58F 1 1 4 1 Vysoká 3
60 42 Diode Dioda
(Diode) 		1 42B 1 1 4 1 Střední 4.4 2
61 45 Module Modul
(Module) 		1 45C 1 1 3 1 Vysoká 3
62 44 Cell Low Přehřátí buňky - nízké
(Cell Low) 		1 44A 1 1 4 1 Nízká 5.3 1
63 63 Module Modul
(Module) 		1 63 1 1 4 1 Vysoká 3
64 45 Module Modul
(Module) 		1 45A 1 1 3 1 Vysoká 3
65 64 Module Modul
(Module) 		1 64 1 1 4 1 Vysoká 3
66 63 Internal Short Circuit High Vnitřní zkrat – vysoká teplota
(Internal Short Circuit High) 		1 63 1 1 28 1 Nízká 22.1 1
67 64 Module Modul
(Module) 		1 64 1 1 21 1 Vysoká 3
68 46 Module Modul
(Module) 		1 46A 1 1 2 1 Vysoká 3
69 63 Module Modul
(Module) 		1 63 1 1 11 1 Vysoká 3
70 46 Module Modul
(Module) 		1 46A 1 1 1 1 Vysoká 3
71 64 Module Modul
(Module) 		1 64 1 1 28 1 Vysoká 3
72 64 Module Modul
(Module) 		1 64 1 1 10 1 Vysoká 3
73 64 Diode Dioda
(Diode) 		1 64 1 1 18 1 Střední 7.2 2
74 39 Cracking Praskání
(Cracking) 		1 39A 1 1 1 1 Vysoká 3
75 64 Module Modul
(Module) 		1 64 1 1 27 1 Vysoká 3
76 64 Module Modul
(Module) 		1 64 1 1 22 1 Vysoká 3
77 64 Diode Dioda
(Diode) 		1 64 1 1 24 1 Střední 2.9 2
78 64 Module Modul
(Module) 		1 64 1 1 20 1 Vysoká 3
79 63 Module Modul
(Module) 		1 63 1 1 21 1 Vysoká 3
80 49 Module Modul
(Module) 		1 49A 1 1 1 1 Vysoká 3
81 49 Module Modul
(Module) 		1 49A 1 1 2 1 Vysoká 3
82 36 Diode Dioda
(Diode) 		1 36 1 1 6 1 Střední 4.5 2
83 48 Module Modul
(Module) 		1 48A 1 1 1 1 Vysoká 3
84 58 Module Modul
(Module) 		1 58F 1 1 3 1 Vysoká 3
85 57 Diode Dioda
(Diode) 		1 57E 1 1 1 1 Střední 5.6 2
86 57 Module Modul
(Module) 		1 57F 1 1 3 1 Vysoká 3
87 78 Diode Dioda
(Diode) 		2 78B 1 1 9 1 Střední 3.7 2
88 9 Diode Dioda
(Diode) 		2 9C 1 1 3 1 Střední 3.6 2
89 3 Diode Dioda
(Diode) 		2 3B 1 1 2 1 Střední 5.1 2
90 57 Diode Dioda
(Diode) 		2 57E 1 1 7 1 Střední 3.3 2
91 95 Diode Dioda
(Diode) 		2 95C 1 1 2 1 Střední 3.9 2
92 39 Cell Multi Medium Přehřátí skupiny buněk – střední
(Cell Multi Medium) 		1 39F 1 1 1 1 Nízká 10.1 1
93 96 Diode Dioda
(Diode) 		2 96C 1 1 4 1 Střední 5.5 2
94 88 Diode Dioda
(Diode) 		2 88C 1 1 3 1 Střední 3.4 2
95 15 Diode Dioda
(Diode) 		2 15B 1 1 6 1 Střední 6.2 2
96 41 Diode Dioda
(Diode) 		2 41C 1 1 2 1 Střední 3.7 2
97 93 Diode Dioda
(Diode) 		2 93A 1 1 10 1 Střední 3.3 2
98 2 Cell Multi Low Přehřátí skupiny buněk – nízké
(Cell Multi Low) 		2 2A 1 1 1 1 Nízká 2.4 1
99 11 Diode Dioda
(Diode) 		2 11C 1 1 1 1 Střední 3 2
100 3 Diode Dioda
(Diode) 		2 3D 1 1 11 1 Střední 4.1 2
101 90 Cell Low Přehřátí buňky - nízké
(Cell Low) 		2 90E 1 1 4 1 Nízká 2.1 1
102 73 Diode Dioda
(Diode) 		2 73C 1 1 1 1 Střední 4.2 2
103 32 Internal Short Circuit High Vnitřní zkrat – vysoká teplota
(Internal Short Circuit High) 		1 32 1 1 27 1 Nízká 28.5 1
104 80 Diode Dioda
(Diode) 		2 80C 1 1 7 1 Střední 6.2 2
105 73 Diode Dioda
(Diode) 		2 73A 1 1 2 1 Střední 3.9 2
106 38 Diode Dioda
(Diode) 		2 38B 1 1 5 1 Střední 3.7 2
107 74 Diode Dioda
(Diode) 		2 74A 1 1 2 1 Střední 3.9 2
108 6 Cell Multi Low Přehřátí skupiny buněk – nízké
(Cell Multi Low) 		2 6A 1 1 2 1 Nízká 5.9 1
109 18 Diode Dioda
(Diode) 		2 18B 1 1 13 1 Střední 4.5 2
110 71 Diode Dioda
(Diode) 		2 71E 1 1 7 1 Střední 3.2 2
111 64 Diode Dioda
(Diode) 		2 64A 1 1 12 1 Střední 6 2
112 34 Diode Dioda
(Diode) 		2 34A 1 1 2 1 Střední 4.5 2
113 32 Diode Dioda
(Diode) 		2 32A 1 1 1 1 Střední 3.9 2
114 70 Diode Dioda
(Diode) 		2 70C 1 1 4 1 Střední 3.1 2
115 4 Diode Dioda
(Diode) 		2 4C 1 1 6 1 Střední 10.1 2
116 63 Diode Dioda
(Diode) 		2 63C 1 1 9 1 Střední 4.4 2
117 58 Diode Dioda
(Diode) 		2 58D 1 1 4 1 Střední 3 2
118 30 Diode Dioda
(Diode) 		1 30A 1 1 1 1 Střední 3.3 2
119 21 Soiling Znečištění
(Soiling) 		1 21B 1 1 1 1 Nízká 1
120 51 Cracking Praskání
(Cracking) 		2 51D 1 1 1 1 Vysoká 3
121 50 Diode Dioda
(Diode) 		2 50B 1 1 5 1 Střední 4.1 2
122 16 Diode Dioda
(Diode) 		2 16A 1 1 4 1 Střední 4.4 2
123 20 Diode Dioda
(Diode) 		2 20B 1 1 2 1 Střední 2 2
124 42 Diode Dioda
(Diode) 		2 42B 1 1 5 1 Střední 3.3 2
125 92 Diode Dioda
(Diode) 		1 92E 1 1 1 1 Střední 4.5 2
126 47 Cell Multi Low Přehřátí skupiny buněk – nízké
(Cell Multi Low) 		2 47A 1 1 1 1 Nízká 3.6 1
127 16 Diode Dioda
(Diode) 		1 16D 1 1 5 1 Střední 3.2 2
128 23 Diode Dioda
(Diode) 		2 23D 1 1 3 1 Střední 4.1 2
129 20 Diode Dioda
(Diode) 		2 20A 1 1 6 1 Střední 4.2 2
130 21 Diode Dioda
(Diode) 		1 21C 1 1 5 1 Střední 5.5 2
131 18 Internal Short Circuit High Vnitřní zkrat – vysoká teplota
(Internal Short Circuit High) 		1 18C 1 1 1 1 Nízká 20.1 1
132 21 Diode Dioda
(Diode) 		2 21B 1 1 4 1 Střední 3.9 2
133 42 Diode Dioda
(Diode) 		2 42D 1 1 3 1 Střední 4.3 2
134 31 Diode Dioda
(Diode) 		2 31A 1 1 5 1 Střední 4 2
135 31 Diode Dioda
(Diode) 		2 31A 1 1 6 1 Střední 4.8 2
136 25 Diode Dioda
(Diode) 		2 25E 1 1 8 1 Střední 4.4 2
137 29 Soiling Znečištění
(Soiling) 		2 29A 1 1 11 1 Nízká 1
138 10 Cracking Praskání
(Cracking) 		1 10A 1 1 2 1 Vysoká 3
139 28 Cell Low Přehřátí buňky - nízké
(Cell Low) 		2 28C 1 1 1 1 Nízká 2.4 1
140 30 Cell Multi Low Přehřátí skupiny buněk – nízké
(Cell Multi Low) 		2 30A 1 1 11 1 Nízká 3.9 1

Průběh a zpracování leteckého termovizního měření

Pro účely tohoto reportu byla využita metodika letecké termografické inspekce, při níž byly pomocí bezpilotních prostředků (dronů) pořízeny infračervené termální snímky umožňující detailní a vysoce přesné měření teplotních charakteristik fotovoltaických modulů. Vyhodnocení bylo provedeno v souladu s požadavky normy IEC TS 62446-3. Aplikovaná metodika umožňuje detekci teplotních anomálií a účinnou diagnostiku poruchových oblastí systému z letecké perspektivy, přičemž je zajištěna vysoká přesnost lokalizace identifikovaných vad.

Díky optimalizaci letového a snímkovacího procesu byla veškerá data pořízena v krátkém časovém úseku a za homogenních meteorologických podmínek (zejména konstantní intenzity slunečního záření), což minimalizuje vliv proměnných faktorů a umožňuje konzistentní analýzu jednotlivých modulů.

Analýza byla dále podpořena komprehenzivním vyhodnocením leteckých snímků s velmi vysokým prostorovým rozlišením (3 cm/px), což umožnilo identifikaci anomálií na úrovni jednotlivých stringů, modulů i jednotlivých fotovoltaických článků.

Pro zajištění maximální integrity a přesnosti dat byla všechna získaná data (barevné RGB snímky i infračervené IR snímky) ručně kontrolována a vzájemně korelována, čímž byla eliminována možnost chybných interpretací.

Byly analyzovány následující anomálie 

  1. Buňka (Cell): Lokální teplotní anomálie na úrovni jediné FV buňky indikující potenciální poruchu článku, typicky způsobenou výrobní vadou, degradací materiálu nebo mechanickým poškozením.
  2. Více buněk (Cell Multi): Vícečetné teplotní anomálie rozprostřené přes několik sousedních buněk jednoho modulu, často signalizující rozsáhlejší defekt struktury nebo degradaci.
  3. Obvod (Circuit): Závada na elektrickém obvodu, projevující se výpadkem nebo podvýkonem více stringů, související s problémy zapojení nebo izolace.
  4. Slučovač (Combiner): Anomálie způsobená závadou v místě slučování více stringů do jednoho stejnosměrného toku, často spojená se špatným spojením, degradací kabeláže nebo selháním ochranných prvků.
  5. Praskliny (Cracking): Výskyt mikroprasklin nebo makrotrhlin ve skleněné či vrstvené struktuře modulu, vedoucí k lokálnímu přehřátí, snížení výkonu a riziku další degradace.
  6. Poškození (Damaged): Mechanické deformace modulu, včetně ohnutí, posunutí, fyzického narušení nebo rozsáhlých prasklin, které mohou způsobovat výrazné ztráty výkonu a zvýšené bezpečnostní riziko.
  7. Delaminace (Delamination): Oddělení vrstev skla, zapouzdřovacího materiálu nebo aktivní vrstvy modulu, vedoucí k degradaci ochranných vlastností, vyšší náchylnosti k infiltraci vlhkosti a snížení výkonu.
  8. Dioda (Diode): Aktivace bypass diody jako důsledek výpadku buňky nebo modulu, signalizující přítomnost závažného lokálního defektu ovlivňujícího část výrobního řetězce.
  9. Poškození vlivem spirály (Helix Damage): Permanentní deformace modulů nebo nosné konstrukce způsobená mechanickým zkroucením trackeru, obvykle v důsledku poruchy řízení pohybu.
  10. Horký bod (Hot Spot): Malá oblast s výrazně vyšší teplotou oproti okolí, indikující vadné spoje, degradaci článků nebo částečné zastínění, s vysokým rizikem vzniku dalších poruch.
  11. Více horkých bodů (Hot Spot Multi): Výskyt několika horkých bodů v rámci jednoho modulu, typicky na tenkovrstvých panelech, indikující rozsáhlejší strukturální poškození.
  12. Vnitřní zkrat (Internal Short Circuit): Výsledná anomálie vzniklá v důsledku vnitřního zkratu v modulu, způsobujícího lokální zahřívání a výrazné snížení výkonu.
  13. Měnič (Inverter): Závada na střídači převádějícím DC na AC proud, projevující se nefunkčností připojených stringů a ovlivňující velké části systému.
  14. Připojovací skříň (Junction Box): Teplotní anomálie v místě připojení stringů na modulu, často indikující vadné spoje, korozní poškození nebo přehřátí elektrických kontaktů.
  15. Chybějící modul (Missing): Fyzicky absentující modul, který byl dle projektové dokumentace instalován, nebo jeho odstranění bez aktualizace dokumentace.
  16. Modul (Module): Celková teplotní anomálie na úrovni celého modulu, často indikující výpadek bypass diod, vnitřní poškození nebo degradaci celé jednotky.
  17. Fyzická překážka (Physical Obstruction): Přítomnost cizího předmětu (např. listy, kameny, sníh) na povrchu panelu způsobující stínění a lokální pokles výkonu.
  18. Obrácená polarita (Reverse Polarity): Elektrické zapojení s nesprávnou polaritou, vedoucí ke ztrátě výkonu, potenciálnímu poškození zařízení a riziku poruch.
  19. Stínění (Shading): Blokování slunečního záření vegetací, konstrukcemi nebo jinými objekty, s přímým dopadem na snížení účinnosti výroby energie.
  20. Znečištění (Soiling): Usazení prachu, špíny, ptačího trusu nebo jiných nečistot na povrchu panelů, vedoucí k nerovnoměrnému oslunění a snížení výkonu.
  21. String (String): Sada FV modulů zapojených v sérii, kde závady v jednotlivých modulech nebo spojích ovlivňují výkon celé skupiny.
  22. Sklon trackeru (Tracker Tilt): Nesprávné nastavení úhlu trackeru ovlivňující schopnost systému optimalizovat výrobu energie během dne.
  23. Podvýkonný string (Underperforming String): String vykazující výrazně nižší teplotní rozdíl (a tím výkon) oproti sousedním stringům, obvykle indikující částečné defekty.
  24. Vegetace (Vegetation): Zastínění modulů vegetací (tráva, keře, stromy) snižující přímý dopad slunečního záření a účinnost systému.

Příklady anomálií

Cell Medium (Přehřátí buňky - střední)

Anomálie, kdy je teplota buňky vyšší než teplota okolní oblasti, a to o 10 - 20 stupňů Celsia

Cell Low (Přehřátí buňky - nízké)

Anomálie, kdy je teplota buňky vyšší než teplota okolní oblasti, ne však více než o 10 stupňů Celsia

Cell Multi High (Přehřátí skupiny buněk – vysoké)

Přehřátí skupiny buněk, kdy je teplota oblasti anomálie vyšší než teplota okolní oblasti, a to o více než 20 stupňů celsia

Cell Multi Medium (Přehřátí skupiny buněk – střední)

Přehřátí skupiny buněk, kdy je teplota oblasti anomálie vyšší než teplota okolní oblasti, a to o 10 - 20 stupňů Celsia

Cell Multi Low (Přehřátí skupiny buněk – nízké)

Přehřátí skupiny buněk, kdy je teplota oblasti anomálie vyšší než teplota okolní oblasti, ne však o více než 10 stupňů celsia

Internal Short Circuit High (Vnitřní zkrat – vysoká teplota)

Anomálie více buněk, která nastala v rámci hranic diod/y a kde je teplota vyšší než okolní oblast, a to o více než 20 stupňů Celsia

Internal Short Circuit Low (Vnitřní zkrat – nízká teplota)

Anomálie více buněk, která nastala v rámci hranic diod/y a kde je teplota vyšší než okolní oblast, ne však o více než 10 stupňů Celsia

Diode (Dioda)

Bajpasovaná dioda poskytuje tok proudu około vadné buňky nebo modulu. Anomálie typu dioda je indikovaná jako bypassovaná dioda – obvykle zasahující 1/3 modulu.

Diode Multi (Dioda - vícenásobná)

Vícenásobná aktivovaná bypassovaná dioda – obvykle zasahující 2/3 modulu.

Module (Modul)

Teplota celého modulu je vysoká v porovnání s okolní oblastí.

Cracking (Praskání)

Anomálie modulu způsobená praskáním povrchu.

Soiling (Znečištění)

Špína, prach nebo jiné nečistoty na povrchu modulu